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CTT3280F测试机
 

CTT3280F测试体系是以量产功率半导体分立器件为目的的高机能集成电路测试机,可顺应于功率器件的芯片测试和废品测试,次要测试种类包罗MOS、二极管、三极管等三端器件。经由过程与主机向毗连的测试头连到针卡,实现16 site的并测硬件构造,次要用于多site芯片并测。

体系的主要特点以下:

1、PC经由过程PCI卡与测试机数据交流;

2、接纳双层机架,最多能够配13块模块;

3、整机测试规格为1000V/10A,最大撑持16 SITE全参数并行测试;

4、DUT盒经由过程3米长导线与主机相连;

5、通例设置1个DUT,可并测8个管芯,最大可设置2个DUT,最大可并测16个管芯;

6、配GPIB接口,可与UF200等支流探针台停止联机测试;

7、测试电机源由软件掌握,具有自我庇护功用;

8、板载校准数据确保模块本身体系精度;

9、每一个源自力AD/DA提拔了体系的测试速度;

10、Windows 7操作系统,C/C++情况编程,VS2015编程平台;

11、软件界面以填表方法供给用户测试参数设置界面,并提供单项参数调试功用;

12、DUT盒标配CHK板停止自检校准校验;

13、撑持ACCESS 、EXCEL 、CSV、STDF四种数据保留格局;

14、经由过程体系设置能够满意差别客户的特殊要求;

15、具有防呆功用,对不具有测试条件的信息能主动报警并截至测试;

16、许可用户本人界说体系功能模块的权限。

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